X射线荧光光谱仪哪个好点？

一、X射线荧光光谱仪哪个好点？

奥林巴斯X射线荧光光谱仪好。

奥林巴斯X射线荧光分析仪只有1.54kg的重量，小小的一个，在矿场检测时堪称是移动实验室般的存在，因为分析仪重量轻的缘故，所以在野外检测时是非常便携的。

当勘探人员在进行矿场勘测时，常常会进行各个方位的重复检测，大量的奔走和长时间的使用是不可避免的，这个时候奥林巴斯X射线荧光分析仪的重量优势就展露无遗了。被称为“矿场移动实验室般的存在”可不仅仅只是如此，难能可贵的就是能够在现场获得实验室分析水平的检测结果，这一点奥林巴斯X射线荧光分析仪就可以做到，可以解决很多用户的焦虑。

二、x射线荧光光谱仪可以干啥？

可以存储和显示重金属的种类,含量和测试时间。存储了超过100,000个数据和地图。

数据传输和处理:无线传输,蓝牙,USB,可以连接到外部平板电脑以方便操作。

安全系统:设备前部装有红外和可见光双探测器,具有良好的环境性能;硬件保护(非软件感知X...

辐射防护:无放射性同位素激发源,环保性能强;X射线辐射剂量≤0.06μSV/h。

三、X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别？

X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。 X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。 两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。

四、XRF X射线荧光光谱仪分析结果阅读？

中间是元素浓度的百分含量，后面是理论误差！这明显是用归一法测试的，结果中水占据了99.6%的浓度是99.99%减去其他元素浓度得到的！不知道您那边用的是什么牌子的仪器，一般这种测试如果不用相应样品标定的话测试结果误差还是很大的！

五、X射线荧光光谱仪的原理是什么？

X射线光电子能谱分析

X射线光电子能谱法（X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS）在表面分析领域中是一种崭新的方法。虽然用X射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道，但当时可达到的分辩率还不足以观测到光电子能谱上的实际光峰。直到1958年，以Siegbahn为首的一个瑞典研究小组首次观测到光峰现象，并发现此方法可以用来研究元素的种类及其化学状态，故而取名“化学分析光电子能谱（Eletron Spectroscopy for Chemical Analysis-ESCA）。目前XPS和ESCA已公认为是同义词而不再加以区别。

XPS的主要特点是它能在不太高的真空度下进行表面分析研究，这是其它方法都做不到的。当用电子束激发时，如用AES法，必须使用超高真空，以防止样品上形成碳的沉积物而掩盖被测表面。X射线比较柔和的特性使我们有可能在中等真空程度下对表面观察若干小时而不会影响测试结果。此外，化学位移效应也是XPS法不同于其它方法的另一特点，即采用直观的化学认识即可解释XPS中的化学位移，相比之下，在AES中解释起来就困难的多。

1 基本原理

用X射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。

如果X射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为Eb，射出固体后的动能为Ec，则它们之间的关系为： hν=Eb+Ec+Ws 式中Ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： Eb＝hν-Ec-Ws 可见，当入射X射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。

六、x射线荧光光谱仪的辐射强度？

X射线荧光光谱仪辐射强度为：

一般进口台式的X荧光光谱仪都是辐射免检产品，工作情况下，在仪器贴边部位辐射剂量不超过0.1usv/h（每小时0.1个单位）。这是很低的辐射量，因为一个人每年收到自然界辐射要有2400usv（每年2400个单位）。而且你工作的时候也不可能贴边站立，稍微离个30公分，这个辐射值会减弱至1/9（每小时0.01个单位）。

如果是手持的话，就很难说了。因为受到你操作正规与否的影响以及测量样品的影响。只能说，正常情况下，在仪器贴边部位辐射剂量可以达到1~2usv/h(每小时1~2个单位)，而如果使用方式不当，测量姿势不正确，这个辐射值会变得更大。所以说，用手持荧光光谱仪，一定要遵守用户手册。

七、x射线荧光谱仪为什么不能分析氢元素？

因为氢是一种气体，光谱仪无法分析

八、高端X射线荧光光谱仪的品牌怎么选择？

首先选择波长色散型的，帕纳科、ARL、森沙仪器的都很专业

九、x射线光谱仪缩写？

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。

这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

十、X射线荧光光谱仪测金属的原理和方法？

1.X 射线荧光光谱仪工作原理

用 X 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光×射线,需要把混合的 X 射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的 X 射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫 X 射线荧光光谱仪。由于 X 光具有一定波长,同时又有一定能量,因此, X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。

2.X 射线荧光光谱仪分析的一般方法是:

1）.选择分析方法;

2）.样品制备;

3）.仪器参数选择与校准曲线的制作;

4）.试样分析。